UDS DFT service

在集成电路(IC)进入超大规模集成电路(VLSI)时代,可测试性设计(DFT)是电路和芯片设计的重要环节,通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。UDS顺应芯片设计的总体趋势,在业务方面加强了DFT测试技术和水准,我们提供的主要DFT服务如下:

 

 

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